Logiciels Software - GSR Emulators - BallisticSEM - SurveyXT Emulateurs GSR Emulateur GSR-XT – Logiciel qui permet une analyse hors ligne d’une récolte de donnée venant de GSR-XT Description : Virtuellement identique à la version en ligne de GSR-XT, l’émulateur GSR-XT vous permet de réviser vos données hors ligne et à distance du Quanta. Il autorise également une modification des définitions des classes et une reclassification automatique ultérieure des données récoltées. Le programme est aussi utile pour la formation des nouveaux utilisateurs de GSR-XT. Configuration requise : 1) Résolution de l’écran d’ordinateur : 1280 x 1025; min. 65K de couleurs et police large 2) Windows 2000 professionnel ou XP Pour commander : Numéro d’article GSR_XT_EM – disponible directement auprès de Eastern Analytical, 1600 € Emulateur GSR-NT – Logiciel permettant l’analyse hors ligne des données récoltées à partir de GSR-NT Description : Virtuellement identique à la version en ligne de GSR-NT V3 4a, l’émulateur GSR-NT vous permet de réviser vos données hors ligne et à distance du Quanta. Il autorise également une modification des définitions des classes et une reclassification automatique ultérieure des données récoltées. Le programme est aussi utile pour la formation des nouveaux utilisateurs de GSR-NT. Configuration requise :T 1) Windows 2000 ou Windows NT : Pour commander : Numéro d’article GSR_NT_EM – disponible directement auprès de Eastern Analytical, 1600 € Emulateur GSR-2002 – Logiciel permettant l’analyse hors ligne des données récoltées à partir de GSR-2002 Description : Virtuellement identique à la version en ligne de GSR-2002 V3 4CS, l’émulateur GSR-2002  vous permet de réviser vos données hors ligne et à distance du Quanta.  Il autorise également une modification des définitions des classes et une reclassification automatique ultérieure des données récoltées. Le programme est aussi utile pour la formation des nouveaux utilisateurs de GSR-2002. Configuration requise : 1) Windows 2000 ou Windows NT Pour commander : Numéro d’article GSR_2002_EM – disponible directement auprès de Eastern Analytical, 1600 € haut de la page BallisticSEM Logiciel pour l’examen et la comparaison des preuves balistiques dans le MEB Caractéristiques • Interface de logiciel pour les porte-échantillons balistiques FEI • Acquérir des images de • Quanta • Edax • N’importe quelle source vidéo (DV) • Outil portfolio multi-images • Outil de comparaison de vue à plat de modèle tm • Apparence et réactions similaires à l’interface Quanta Description du produit La comparaison des balles avec les douilles sont communément réalisée dans un microscope de comparaison optique. Néanmoins, dans certains cas, il est avantageux d’examiner ces matériaux dans un microscope à balayage électronique. Les images de tels échantillons, prises à travers un MEB, montrent des caractéristiques très différentes de celles que l’on peut obtenir avec un microscope optique. Les images du microscope électronique peuvent montrer des détails de la chimie de la surface des matériaux balistiques et des contaminants qui y adhèrent. Ces caractéristiques peuvent être observées en utilisant le signal d’électrons rétrodiffusés dans le MEB ou peuvent être chimiquement analysé par l’analyseur de rayons X EDS du MEB. BallisticSEM permet à ses utilisateurs d’imager aisément les surfaces des balles et des douilles.  Le système permet la manipulation de deux balles ou douilles de la même manière qu’avec un microscope de comparaison balistique optique.  Les deux échantillons peuvent être manipulés de façon simultanée ou indépendante dans la chambre à vide du microscope. Fig. 1 : images électronique et optique d’une balle de 9 mm montée sur un porte-échantillon BallisticSEM Le logiciel BallisticSEM permet aussi une comparaison pratique et efficace des images des échantillons entre eux ou avec des images stockées. . Le logiciel acquiert rapidement les images des échantillons en utilisant soit le balayage classique, les electrons rétrodiffusés ou des images optiques. Les images optiques peuvent être obtenues à partir d’un microscope optique externe ou à partir du système incorporé d’imagerie optique optionnel boroscope. Le logiciel peut rassembler des images provenant des différentes sources de signal du MEB (balayage classique et rétrodiffusé) ou via des capteurs intégrés d’image (RS-170 CCTV ou IEEE 1384 Firewire DV) ou simplement à partir du stockage sur le réseau. Fig.2 : Logiciel BallisticSEM montrant deux images de référence principales et le portfolio d’images Les deux images principales peuvent être en direct simultanément et peuvent avoir des caractéristiques d’acquisition différemment optimisées (contraste, brillance et autres paramètres CODECS) si le matériel installé le permet. Les deux images peuvent être comparées de manière interactive en utilisant la superposition en direct et une image combinée résultant de la fusion des deux images. Le résultat est commode pour une comparaison et une documentation des caractéristiques. L’outil intégré de mesure fournit un mesurage direct et interactif des distances sur les surfaces de l’échantillon. Y est aussi intégré un outil pour la calibration automatique de la mise au point du MEB. Les images peuvent être stockées sous de multiples formats, des plus populaires aux plus anciens. Des collections d’images balistiques peuvent être compilée dans des portfolios. Ceux-ci peuvent contenir des images de n’importe quelle source, n’importe quelle résolution ou type de fichier et peut se trouver dans différentes unités de stockage (mondialement valable). L’option Flatview™ permet de scanner et compiler automatiquement dans les portfolios les images des surfaces incurvées des balles et des douilles. Les images Flatview™ sont des images dont l’axe Y est proche d’une tranche d’image unidimensionnelle à travers l’échantillon et dont l’axe X représente des degrés de rotation. Ces images rendent les comparaisons de l’intégrité des surfaces cylindriques des échantillons simple et pratique. Fig. 3 : Vue à plat d’une douille de 9 mm Le logiciel Flatview™ fournit un outil pour comparer directement deux images plates et pour un ajustement interactif des positions relatives de l’image et la phase de rotation. Une fois les deux images mises en concordance, une image combinée peut être formée et sauvée pour une utilisation ultérieure à titre de référence. Fig. 4 :comparaison interactive des images Flatview™ Fig 5 : porte-échantillons de comparaison balistique montrant des balles, des douilles et les moteurs Caractéristiques BallisticSEM – Porte-échantillons de comparaison balistique • S’adapte à toutes les balles et les douilles pour toutes les munitions communes • Comparaison directe ou deux échantillons indépendamment rotatifs (2 moteurs) • Rotation via les contrôles de la barre d’outils • Usinage du porte-échantillons compatible avec le système de relocalisation du porte-échantillons GSR sans remplacement des standards GSR • Vitesse de rotation de 1 à 40° par seconde • Rotation bidirectionnelle BallisticSEM – Logiciel de comparaison balistique • Visualisation en direct et comparaison d’images à partir de deux sources vidéo indépendantes • Les images en direct peuvent être captées directement à partir du MEB (superposition) via les capteurs RS-170 CCTV (Osperey et Coreco), les sources vidéo digitale Firewire IEEE1394 telles les caméras et les vidéocaméras et à partir du réseau. La capture des images fonctionne avec n’importe quelle source vidéo compatible avec le format DirectX 8 tout comme avec des sources plus anciennes sous le format VFW. • Outil de mesure interactif • Calibration automatique de la mise au point du MEB • Outils de comparaison d’image (superposition) mise en corrélation des images et fusion de celles-ci) • Possibilité de créer des portfolios d’images de sujets similaires pouvant être sauvegardés dans des groupes. Les images dans les portfolios peuvent se décliner en formats actuels ou plus anciens, diverses résolutions et peuvent se trouver à n’importe quel endroit accessible à votre machine. • Stockage des images en format TIFF multipages • Panneau de contrôle du MEB (platine et rayon, compatible Quanta et XL) Options de BallisticSEM Pilotes pour moteurs • Moteurs de porte-échantillons à position indexée (sur 1 ou 2 axes) avec un logiciel de contrôle inclus dans l’interface BallisticSEM.  Précision de positionnement de 0,1 degrés.  Vitesse réglable entre 1 et 40° par seconde • Images stockées à une résolution de 786 x 384 en couleurs ou noir et blanc, compressées ou pas • Nécessite au moins un moteur pour bénéficier de l’option d’indexation • Les portfolios Flatview™ permettent la comparaison des traces sur les balles avec les archives de cas inventoriés Prérequis • BallisticSEM est disponible pour les MEB Quanta 400 et 600, XL 40 et XL 30 (avec des platines de 100 x 100.  D’autres platines sont à commander sur mesure) • Windows 2000 • 1 port de secours RS232 • 1 port de secours MEB (modèle 55 ou 60 mm) Options spécifiques XL • Deuxième PC configuré sous Windows 2000 et résolution vidéo 24 bit 1280/1024 • Une connection Ethernet entre XL et le deuxième PC • 1 ou 2 carte de capture vidéo ou des sources DV (seulement si canaux en direct sont requis) Les images ci-dessus montrent le porte-échantillons (sans le plateau d’examen de la cartouche). Ces images ont été réalisées à l’aide de la caméra optique externe offerte par Eastern Analytical. Notre logiciel SurveyXT supporte aussi cette caméra optique afin de permettre des montages optiques. Autant BallisticSEM que SurveyXT traitent des images optiques qu’électroniques. BALSEM_01 Logiciel BallisticSEM Logiciel servant à l’affichage et à l’archivage d’images d’échantillons balistiques. Le logiciel ne fonctionne qu’avec un affichage en 1280 x 1024 et supporte Flatview lorsque des moteurs digitalement contrôlés sont présents (BALSEM_XT_MOT1 or BALSEM_XT_MOT2 voir section « porte-échantillons ») Disponible directement auprès de Eastern Analytical haut de la page SurveyXT Outil de navigation pour de grands échantillons placés dans les modèles Quanta et XL Microscope avec caméra optique Caractéristiques • Montages d’images électroniques et optiques rapides et sur une large surface à partir de Quanta et XL • Flexibilité de configuration • Complément à GSR-XT • Outil de navigation autonome • EDS utile mais pas nécessaire • Permet des géométries complexes de recherche pour GSR-XT • Compatible avec n’importe quelle source d’images (Quanta, Edax ou caméra optique) • Analyse « pointer et cliquer » de larges échantillons • Apparence et réactions similaires à l’interface Quanta La vue de gauche est un montage optique, celle de droite une montage par rayonnement rétrodiffusé Ces deux images ont été automatiquement générées par SurveyXT Description du produit Les utilisateurs de microscopes doivent souvent examiner des surfaces de specimens larges à la recherche de détails dignes d’intérêt.  Ces détails peuvent être de petits comparés à la taille de l’objet examiné.  Par exemple, la recherche d’une contamination de la taille d’un micron sur une tranche de 8 pouces en silicone. SurveyXT permet à l’utilisateur d’imager automatiquement la surface d’échantillons aussi larges que l’amplitude de la platine de leur microscope.  En visualisation plein écran, un montage est contruit de sorte que la surface totale de l’échantillon puisse être entièrement vue.  Ce montage est une compilation des images prises consécutivement lors du balayage de chaque champ.  Chaque champ peut être défini pour permettre la visualisation de détails aussi petits que 0,5 microns se trouvant sur une surface de 150 X 150 mm. Fig. 1 : image rétrodiffusée de l’entièreté d’une surface de 5 pouces, disque diamanté Fig. 2 : Image optique d’un disque diamanté montrant un bloc standard de 1 pouce de diamètre Le programme est aussi utile à des applications générales où le minimum de grossissement est restreint pour des raisons optiques ou de vide à l’intérieur de la chambre du MEB, et lorsqu’une vue d’ensemble d’une surface plus large de l’échantillon est requise de manière à trouver des zones d’intérêt. Après que le montage soit construit, l’utilisateur peut alors investiguer les champs afin de trouver des détails dignes d’intérêt. Chaque champ peut être examiné à la résolution de balayage de base et non à celle du montage, ce qui permet de trouver de très petits détails qui n’auraient pas été visibles sur le montage. Si l’utilisateur trouve des détails intéressants, le logiciel donne la possibilité à ce champ d’être revisité et de réaliser une image d’une résolution potentiellement plus élevée du détail. Fig. 3 : Surface de montage (gauche) montrant le champ investigué en surbrillance. Image du champ à droite. Fig. 4 : Surface ayant subi un second balayage montrant une particule de débris à nombre atomique élevé (les particules noires sont des particules de diamant) Si le microscope est équipé d’un système EDS, les détails peuvent alors être analysés et les résultats classés dans une des 4000 classes chimiques. Chaque classe peut contenir jusqu’à plus de 8 éléments. Les classes peuvent être définies de manière à répondre à l’application de l’utilisateur. Par exemple, les géologues peuvent construire une classe d’oxydes minéraux ou de phases de métaux rares relatives à leur activité. Des classes similaires peuvent être différenciées simplement en définissant leurs compositions précisément et en ajustant les temps d’acquisition EDS afin de s’adapter à la différenciation souhaitée. Les classes qui sont très différentes chimiquement ne nécessitent pas que leur spectre soit de la même qualité que des classes qui sont très similaires. Le mécanisme de différenciation de classe est contrôlé par le temps d’acquisition du rayon X. Les définitions de classes peuvent être « apprises » automatiquement par le système pour un spectre échantillon ou les classes peuvent être synthétisées à partir de leur composition théorique. Fig. 5 : Résultats d’un examen manuel de particules utilisant SurveyXT Applications • Examen en tranches • Imagerie IC et PCB • Minéral - recherche de métaux rares • Minéral – section de recherche sur les noyaux • Biologie/utilisation générale – lorsqu’un faible grossissement est limité • Recherches légistes – trouver et caractériser des détails sur une grande surface • Musées – caractérisation de détails sur de larges specimens • Métallurgie - analyse manuelle de débris • Métallurgie – Caractérisation de détails sur de larges échantillons tout comme la recherche d’inclusions dans certaines parties Caractéristiques • Montages de surfaces plus larges que le trajet de déplacement de la platine(150mm x 150mm sur Q600) • Les images des champs peuvent être acquises à n’importe quel grossissement, à des résolutions de 4096 x 3200, 2048 x 1600, 1024 x 800 et 512 x 400 pixels • Configuration automatique et manuelle du balayage de montage (basée sur une taille minimale de détail trouvé) • Les images peuvent être acquises à partir de n’importe quelle source dans le microscope ou peuvent être issues du microscope optique intégré optionnel • Les montage ainsi que les champs peuvent être stockés sur le disque • Détermination et classification des analyses ( rayons X requis) • Plus de 4000 classes chimiques (rayons X requis) peuvent être configurées avec plus de 8 éléments par classes • Résultats analytiques exportés en fichiers délimités par une virgule pour une utilisation dans Excel • Spectre enregistré sous format MAS ou celui de propriétaire. • Images stockées sous des formats BMP ou JPEG Prérequis • Quanta sans analyse de rayon X – microscope seul • Quanta avec analyse de rayon X – microscope + EDS • Mise à jour XL possible Pour commander : Numéro d’article SUR-XT_NS SurveyXT pour MEB Quanta Numéro d’article SUR-XT_NSE SurveyXT pour MEB Quanta Edax EDS intégré Numéro d’article SUR-XT_NS SurveyXT pour MEB Quanta Edax EDS non intégré Numéro d’article SUR-XT_XL SurveyXT pour MEB XL avec Edax EDS non intégré Directement disponible chez Eastern Analytical

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